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『簡體書』半导体材料标准汇编(2014版) 方法标准 行标分册

書城自編碼: 2490637
分類: 簡體書→大陸圖書→工業技術工具书/标准
作者: 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会,中国标准出版社
國際書號(ISBN): 9787506677530
出版社: 中国标准出版社
出版日期: 2014-11-01

頁數/字數: 450/890000
書度/開本: 大16开

售價:NT$ 1530

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內容簡介:
半导体材料是指介于金属和绝缘体之间的电导率为10-3Ω·cm~108Ω·cm的一种具有极大影响力的功能材料,广泛应用于制作晶体管、集成电路、电力电子器件、光电子器件等领域,支撑着通信、计算机、信息家电、网络技术、国防军工以及近年来兴起的光伏、LED等行业的发展。半导体材料及其应用已成为现代社会各个领域的核心和基础。
目錄
YST 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
YST 23-1992 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
YST 24-1992 外延钉缺陷的检验方法
YST 26-1992 硅片边缘轮廓检验方法
YST 34.1-2011 高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法ICP-MS测定高纯砷中杂质含量
YST 34.2-2011 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量
YST 34.3-2011 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量
YST 35-2012 高纯锑化学分析方法 镁、锌、镍、铜、银、镉、铁、硫、砷、金、锰、铅、铋、硅、硒含量的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法
YST 37.1-2007 高纯二氧化锗化学分析方法 硫氰酸汞分光光度法测定氯量
YST 37.2-2007 高纯二氧化锗化学分析方法 钼蓝分光光度法测定硅量
YST 37.3-2007 高纯二氧化锗化学分析方法 石墨炉原子吸收光谱法测定砷量
YST 37.4-2007 高纯二氧化锗化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法测定镁、铝、钴、镍、铜、锌、铟、铅、钙、铁和砷量
YST 37.5-2007 高纯二氧化锗化学分析方法 石墨炉原子吸收光谱法测定铁量
YST 38.1-2009 高纯镓化学分析方法 第1部分:硅量的测定 钼蓝分光光度法
YST 38.2-2009 高纯镓化学分析方法 第2部分:镁、钛、铬、锰、镍、钴、铜、锌、镉、锡、铅、铋量的测定 电感耦合等离子体质谱法
YST 226.1-2009 硒化学分析方法 第1部分:铋量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法
YST 226.2-2009 硒化学分析方法 第2部分:锑量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法
YST 226.3-2009 硒化学分析方法 第3部分:铝量的测定 铬天青S-溴代十六烷基吡啶分光光度法
YST 226.4-2009 硒化学分析方法 第4部分:汞量的测定 双硫腙-四氯化碳滴定比色法
YST 226.5-2009 硒化学分析方法 第5部分:硅量的测定 硅钼蓝分光光度法
YST 226.6-2009 硒化学分析方法 第6部分:硫量的测定 对称二苯氨基脲分光光度法
YST 226.7-2009 硒化学分析方法 第?部分:镁量的测定 火焰原子吸收光谱法
YST 226.8-2009 硒化学分析方法 第8部分:铜量的测定 火焰原子吸收光谱法
YST 226.9-2009 硒化学分析方法 第9部分:铁量的测定 火焰原子吸收光谱法
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YST 226.11-2009 硒化学分析方法 第11部分:铅量的测定 火焰原子吸收光谱法
YST 226.12-2009 硒化学分析方法 第12部分:硒量的测定 硫代硫酸钠容量法
YST 226.13-2009 硒化学分析方法 第13部分:银、铝、砷、硼、汞、铋、铜、镉、铁、镓、铟、镁、镍、铅、硅、锑、锡、碲、钛、锌量的测定 电感耦合等离子体质谱法
YST 227.1-2010 碲化学分析方法 第1部分:铋量的测定 氢化物发生-原子荧光光谱法
YST 227.2-2010 碲化学分析方法 第2部分:铝量的测定 铬天青S-溴代十四烷基吡啶胶束增溶分光光度法
YST 227.3-2010 碲化学分析方法 第3部分:铅量的测定 火焰原子吸收光谱法
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YST 227.5 2010 碲化学分析方法 第5部分:硒量的测定 2,3-=氨基萘分光光度法
YST 227.6-2010 碲化学分析方法 第6部分:铜量的测定 固液分离-火焰原子吸收光谱法
YST 227.7-2010 碲化学分析方法 第7部分:硫量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
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YST 227.9-2010 碲化学分析方法 第9部分:碲量的测定 重铬酸钾-硫酸亚铁铵容量法
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